第39回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム（電気学会・E部門大会）が、11月14日（月）～17日（木）の３日間、アスティとくしま（徳島市）で開催されます。平井研究室からは、組織チップに実装する経上皮電気抵抗計測（TEER）の電極レイアウト最適化設計法に関わる研究成果を発表します。本発表は、オランダ・デルフト工科大学、本学のマイクロエンジニアリング専攻・泉井研、高等研究院iCeMs・亀井准教授らとの共同研究の成果です。
- 講演概要
バイオマイクロナノシステム／11月16日（水） 10:10 〜 11:25
16A2-M-1：高精度な経上皮電気抵抗計測のためのトポロジー最適化による電極設計
合田 晴紀、石田 尚之、古田 幸三、泉井 一浩、Van Keulen Fred、亀井 謙一郎、土屋 智由、田畑 修、平井 義和