電気学会センサ・マイクロマシン部門の第39回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウムで，M2の合田君が組織チップに実装する経上皮電気抵抗計測（TEER）の電極レイアウト最適化設計法に関わる研究成果を発表しました．
- 学会HP：https://sensorsymposium.org/
- 講演概要
「高精度な経上皮電気抵抗計測のためのトポロジー最適化による電極設計」
合田 晴紀、石田 尚之、古田 幸三、泉井 一浩、Van Keulen Fred、亀井 謙一郎、土屋 智由、田畑 修、平井 義和
